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金宏利实业有限公司 

Luminar 4020 薄膜近红外分析仪


    
    产品详细描述:
LUMINAR 4020薄膜近红外光谱仪
 
详细规格:
 
光谱范围
     850—1700nm  900—1700nm  900—1800nm
       1100—2200nm  1300—2500nm 
                      1200—2400nm
波长准确性
+/- 0.5 nm
波长重复性
好于0.01 nm
波长存取时间
<250微秒
扫描速度
随机存取可达16000波长点/秒
测量方式
漫反射
测样角度
25度
微型集成电学模块安装在光学模块上
                        独立的光学和电学模块
温度范围
                           -30 ~ +70℃
波长增量
                      0.3-10 nm, 软件可选
散光
<0.1%或更好
信号数字化
16位模/数转换器(65000分之一)
非线性
<1%
信噪比@70%范围(闭环)
<20微abs
光源
35瓦卤钨灯
检测器
InGaAs TE冷却
光度范围
3.5 AU
嵌入式计算机
带有协处理器的较高配置的微机,硬盘驱动器,相连的端口,软盘和硬盘的端口,VGA显卡,键盘/条形码接口,调制调解器
过程控制输入、输出
Modbus 协议
计算机远程诊断
内置20系统监视传感器
电源
12VDC, 90 W; 90-230 VAC, 90 W
   
    BRIMROSE高速AOTF近红外薄膜分析仪具有极好的准确率,为了优化生产过程,仪器可以放置在生产线内,对于能够准确分析监测薄膜或者涂层是很重要的。仪器可以被用于在线规格确认,薄膜或纸张上的单层或多层涂层厚度,分析和评价涂层或纸张的化学成分,对残留溶液的监测,加工时间,等。
 
    AOTF-近红外薄膜分析仪完全不受外界光,振动,灰尘,污垢的影响,是值得信赖的仪器,在生产环境中无需维护费用。新颖的光学头设计使得薄膜或者涂层的测量对于质量控制是一种有效的节约费用方法。
 
    BRIMROSE LUMINAR 系统紧密设计具有无接触固态传感器,按照所需的行业使用,提供快速全谱扫描。仪器可以被安装在滑竿上,通过网络扫描或者可以被用于统计的斑点测量。对于快速和自动的过程调整,BRIMROSE AOTF-NIR 可以和PLC或DCS连接。利用在线AOTF-NIR过程分析仪进行产品分析,为全世界许多客户节省了大量时间和财力。
  
       

 

 

 
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江苏镇江

2006.01.10